金琅学术出版社

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Omni badge 固体推进剂的X射线检测技术应用安全性论证

武器装备信息化改造安全性论证

Tecnologie aérienne et Spatiale

金琅学术出版社 (29-10-2019) - ISBN-13: 978-620-2-41195-0

17.80 €
Omni badge 基于重力梯度数据反演岩石圈密度结构的研究

以华北克拉通岩石圈密度结构研究为例

Géosciences

金琅学术出版社 (18-10-2019) - ISBN-13: 978-620-2-41191-2

28.80 €

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