Адаптивные нейросетевые алгоритмы диагностики материалов, оборудования
и радиоэлектронной аппаратуры
978-3-659-30508-5
3659305081
276
2013-01-07
79.00 €
rus
https://images.our-assets.com/cover/230x230/9783659305085.jpg
https://images.our-assets.com/fullcover/230x230/9783659305085.jpg
https://images.our-assets.com/cover/2000x/9783659305085.jpg
https://images.our-assets.com/fullcover/2000x/9783659305085.jpg
Монография посвящена новому поколению высококачественных автоматизированных систем неразрушающего контроля материалов, диагностики неисправностей навигационного оборудования и радиоэлектронной аппаратуры на основе комплексирования нейросетевых алгоритмов и методов нечеткой логики, позволяющих работать с нелинейными и неустойчивыми динамическими объектами управления, подверженными влиянию случайных физических полей. Разработанная на основе нейро-нечетких портретов аналитическая модель диагностики отказов позволяет системе управления отслеживать текущую технологическую ситуацию, прогнозировать ее будущее состояние и формировать адекватные ей управляющие воздействия, эффективно компенсирующие неконтролируемые возмущения и случайные помехи. Монография обобщает цикл НИР Национального исследовательского Томского государственного университета в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы» по теме: «Разработка и организация опытного производства рентгеновского микротомографа для исследования органических и неорганических объектов», Г./К. №16.523.11.3009.
https://www.morebooks.de/books/ru/published_by/lap-lambert-academic-publishing/47/products
Монографии
https://www.morebooks.de/store/ru/book/%D0%B0%D0%B4%D0%B0%D0%BF%D1%82%D0%B8%D0%B2%D0%BD%D1%8B%D0%B5-%D0%BD%D0%B5%D0%B9%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%B5%D1%82%D0%B5%D0%B2%D1%8B%D0%B5-%D0%B0%D0%BB%D0%B3%D0%BE%D1%80%D0%B8%D1%82%D0%BC%D1%8B-%D0%B4%D0%B8%D0%B0%D0%B3%D0%BD%D0%BE%D1%81%D1%82%D0%B8%D0%BA%D0%B8-%D0%BC%D0%B0%D1%82%D0%B5%D1%80%D0%B8%D0%B0%D0%BB%D0%BE%D0%B2,-%D0%BE%D0%B1%D0%BE%D1%80%D1%83%D0%B4%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D1%8F/isbn/978-3-659-30508-5