- Natural-, Medical- , Computer Sciences, Technology
- Technology
- Electronics, electro-technology, communications technology
- Введение в технологии JTAG и DFT
- Bookcover of Введение в технологии JTAG и DFT
- Booktitle:
-
Введение в технологии JTAG и DFT
Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование
Palmarium Academic Publishing (2012-05-23 )
eligible for voucher
- ISBN-13:
978-3-8473-9324-5
- ISBN-10:
- 3847393243
- EAN:
- 9783847393245
- Book language:
- Blurb/Shorttext:
- Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике – технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных программно-аппаратных средств поддержки технологии JTAG (ProVision, onTAP, ScanExpress, ScanWorks, XJTAG) и приведено множество примеров, а также введение во внутрисхемное тестирование ICT.
- Publishing house:
- Palmarium Academic Publishing
- Website:
- http://www.palmarium-publishing.ru/
- By (author) :
- Ами Городецкий
- Number of pages:
- 308
- Published on:
- 2012-05-23
- Stock:
- Available
- Category:
- Electronics, electro-technology, communications technology
- Price:
- 79.00 €
- Keywords:
- ICT, DFT, JTAG, внутрисхемное тестирование, внутрисхемное программирование, граничное сканирование, тестопригодное проектирование, DIMM_SODIMM, файлы BSDL, тестирование LVDS
