Введение в технологии JTAG и DFT

Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование

Palmarium Academic Publishing (2012-05-23 )

Books loader

eligible for voucher

ISBN-13:: 978-3-8473-9324-5
ISBN-10:: 3847393243
EAN:: 9783847393245
Book language:: Russian
Blurb/Shorttext:: Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике – технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных программно-аппаратных средств поддержки технологии JTAG (ProVision, onTAP, ScanExpress, ScanWorks, XJTAG) и приведено множество примеров, а также введение во внутрисхемное тестирование ICT.
Publishing house:: Palmarium Academic Publishing
Website:: http://www.palmarium-publishing.ru/
By (author) :: Ами Городецкий
Number of pages:: 308
Published on:: 2012-05-23
Stock:: Available
Category:: Electronics, electro-technology, communications technology
Price:: 79.00 €
Keywords:: ICT, DFT, JTAG, внутрисхемное тестирование, внутрисхемное программирование, граничное сканирование, тестопригодное проектирование, DIMM_SODIMM, файлы BSDL, тестирование LVDS