Введение в технологии JTAG и DFT的封面
书籍主题:

Введение в технологии JTAG и DFT

Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование

Palmarium Academic Publishing (2012-05-23 )

Books loader

Omni badge 有获得代金券的资格
ISBN-13:

978-3-8473-9324-5

ISBN-10:
3847393243
EAN:
9783847393245
书籍语言:
俄语
作品简介:
Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике – технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных программно-аппаратных средств поддержки технологии JTAG (ProVision, onTAP, ScanExpress, ScanWorks, XJTAG) и приведено множество примеров, а также введение во внутрисхемное тестирование ICT.
出版社 :
Palmarium Academic Publishing
网址:
http://www.palmarium-publishing.ru/
由(作者):
Ами Городецкий
页码 :
308
发表日期:
2012-05-23
现货:
备有现货
类别:
电子学,电子-技术,通信技术
价格:
79.00 €
关键词:
ICT, DFT, JTAG, внутрисхемное тестирование, внутрисхемное программирование, граничное сканирование, тестопригодное проектирование, DIMM_SODIMM, файлы BSDL, тестирование LVDS

Books loader

时事通讯

Adyen::amex Adyen::mc Adyen::visa Adyen::cup Adyen::unionpay Paypal 银行转帐

LOGIN
  0产品在购物车内
编辑购物车
Loading frontend
LOADING